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      產(chǎn)品詳情
      • 產(chǎn)品名稱:NAPSON納普森非接觸式全自動分選系統(tǒng)

      • 產(chǎn)品型號:NC-2000FLA
      • 產(chǎn)品廠商:NAPSON納普森
      • 產(chǎn)品文檔:
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      簡單介紹:
      NC-2000FLA 用于非接觸式(渦流法、電容法)電阻率和平整度測量的全 自動分選系統(tǒng)
      詳情介紹:

      產(chǎn)品特性和功能

      多點測量
      多點多點測量
      非接觸式
      非接觸式非接觸式
      電腦和軟件
      電腦和軟件
      全自動
      全自動全自動型

      電阻率、平坦度(厚度)和PN判斷均為全自動非接觸式測量。

      • 電阻率采用渦流法,平坦度采用電容法。
      • 適用于硅晶圓、GaP 和 InP 等化合物半導體的生產(chǎn)控制
      • 具有溫度補償功能的溫度計(硅片)
      • 磁帶的數(shù)量可以根據(jù)您的要求而多

      測量規(guī)格

      測量目標

      • 半導體和太陽能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)
      • 化合物半導體(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

      目標大小

      3~8寸

      測量范圍

      [電阻率] 1m~200Ω·cm (*所有探頭類型的總量程/厚度500um)
      [片狀電阻] 10m~3kΩ/s (*所有探頭類型的總量程)
      [厚度] 150~1,200μm

      *每種探頭類型的測量范圍請參考以下內(nèi)容。
      (1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω·cm)
      (2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω·cm)
      (3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω·cm)
      (4)S-高:1,000~3,000Ω/ □(60~200Ω·cm)

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